商品编码 90309000.01  
商品名称 检测半导体晶片及器件的仪器零件
商品描述 检测半导体晶片及器件的仪器零件包括附件
英文名称 Parts of the instruments for measuring semiconductor wafers and devices (including accessories)
HS编码 90309000.01 申报实例信息,收录数 103 条
HS编码 商品名称 商品规格
90309000.01 SMD检测系统配件(送料装置) 备;产台;3535顺时针;无
90309000.01 SMD检测系统配件(送料装置) 备;产台;3528逆时针
90309000.01 电路板测试机用治具 BGA板件生产完毕后须使用制具对功能性测试正常后方可出货交予
90309000.01 液晶电阻测试设备用标准片 用于电阻测试设备的校验|VLSI牌|SHS-1.8QC
90309000.01 液晶电阻测试设备用标准片的修 用于电阻测试设备的校验|VLSI牌|SHS-1.8QC
90309000.01 千分表 测量精度|PEACOCK牌|PCN-S
90309000.01 固定件(卡箍) 用于组装检测半导体仪器,起到固定作用|无品牌|无型号|
90309000.01 测试卡 晶圆测试仪用;品牌:MICROPROBE;型号:93K
90309000.01 固定件 用于组装检测半导体仪器,检测半导体晶片及器件用的设备零
90309000.01 检测半导体晶片及器件的仪器零件 包括附件
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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