商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 集成电路检测仪 型号:ES6638W/1291
90308200.00 石英晶片自动分选系统 包括石英晶片自动分选机及片式元器件自动测试软件
90308200.00 控制芯片检测仪 型号SK6281,无品牌
90308200.00 晶片厚度测量仪,通过激光照射的波长和接收时间的长短来测量 C8125-10/8971
90308200.00 桌上型简易晶体分选仪 Kolinker牌/型号KS300-002
90308200.00 集成电路测试机Eagle牌 ETS200
90308200.00 自动检测设备4号机 SIT-22F-01
90308200.00 晶片测试仪/品牌:VERIGY 型号:VRY-V5400
90308200.00 钟振温度特性测试仪 W-2800B
90308200.00 连接器 MR00025735A
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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