商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 外观分选机 MCIS-PRO
90308200.00 集成电路测试分选机Hon.tech牌 HT9040-4
90308200.00 芯片参数测试设备 型号:4072B;检测对象:芯片
90308200.00 LAMP LED自动测试分类机 H142
90308200.00 单颗测试仪 电性测试仪
90308200.00 半导体自动检测机 CI-9450/1140.23KG/台
90308200.00 测试切筋一体机 9538-HT
90308200.00 光耦合器测试仪 OPTO2817A,测试光耦合器的电特性
90308200.00 接口测试器 TIU-REFURBISH-FOR CPVS
90308200.00 68通道便携式逻辑分析仪 对象:半导体器件 型号:16822A/2753
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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