商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 缺陷检测仪 ;;;;;AIT
90308200.00 开发工具 QB-V850MINI
90308200.00 自动分检测试机 CASTLE
90308200.00 安捷伦集电测试仪 V5500
90308200.00 516测试分选机/TRIPOD牌 TH-8120-256-020
90308200.00 自动测试分类机 H322High power LED)
90308200.00 精密LCR表 牌子:AGILTNT 型号:E4980A
90308200.00 d33测量仪 用于测量
90308200.00 半导体分立器件测试系统 型:QTEC-4100B
90308200.00 检测半导体晶片仪器 品牌:CRAIG 型号:10-VC082-125 原理:电磁感应,功能:检测半导体晶片
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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