商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 片式半导体冷热冲击检测箱 TSA-71S-A
90308200.00 半导体硅片测试仪 型号:1007/技术参数:电压110VAC,电流21A,频率:60HZ
90308200.00 集成电路性能测试仪 型号PGFP5等,检测硬,软件
90308200.00 测试工具/用途:电视机用,品牌:飞利浦 APC-SHA015201/功能:测试并升级电视机等集成电路的程
90308200.00 晶片电阻检测仪 AX-1155B,检测半导体晶片用
90308200.00 在线程序输入设备夹具 M7200244
90308200.00 晶片测试机 型号:QT4100A
90308200.00 半导体晶片测试台 S300 CASCADE牌
90308200.00 高精密数字电桥/品牌:IET,检测半导体晶片 1689-9700
90308200.00 X射线芯片检测仪 0143/Dage牌 XD7500VR
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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