商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 检测半导体晶片装置 SA0124300
90308200.00 安捷伦集电测试仪-1 V5500
90308200.00 主板芯片用测试板 型号:MCP67
90308200.00 基板检查装置 SFX-FIX-119/禁止直接进口
90308200.00 LCD测试仪 LFPT-400
90308200.00 探针机/TSK牌 UF200
90308200.00 芯片测试机台 检测对象:芯片;型号:S300-973-HT
90308200.00 推拉测试台 无牌子无型号 测试物件插入、拔出力的大小
90308200.00 晶片厚度测量仪 型号:C8125-60/8-21
90308200.00 硅片扫描仪 WT-2000PV
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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