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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 半导体测试机 | TERSO-588076 |
| 90308200.00 | 测试分选机 | ELETECH/SG2000/集成电路/自动分选产品,并对其包装 |
| 90308200.00 | 检查机及1个检测定台 | DMLT-6300Ⅱ |
| 90308200.00 | 推拉力计测试设备 | 旧 DAGE-SERIES-4000 |
| 90308200.00 | 三极管电性能检测仪 | TST-9000DZ |
| 90308200.00 | 网络分析仪及附件 | R3765CH,测量电性规格 |
| 90308200.00 | 晶片探针测试仪 | , |
| 90308200.00 | 晶片测试仪,品牌VERYGY,用于测量高精密仪器 | VRY-V5000-SAIFUN1 |
| 90308200.00 | NEC牌集成电路性能测试仪,用于调试芯片 | 型号QB-V850ESSX2-S144GJ等,12V |
| 90308200.00 | CASCADE牌探针台 | 用于检测半导体晶片及微波芯片的电信号参数 |