商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 晶体中间测试仪 KH8210
90308200.00 IC测试仪用治具 型号:S2695/3017
90308200.00 网络晶体中间测试仪 KH8210
90308200.00 晶片测试仪 品牌:VERIGY,型号:BASE SYSTEM 93K
90308200.00 半导体晶片测试器/牌:XCT/晶片运行时热电能的检测 型号:MCM1H/0382/参数:25-200℃
90308200.00 集成电路测试、编带一体机TRIPOD SOT223
90308200.00 半导体晶片检测仪/工业用/牌NADA/检测对象:半导体晶片 型号TEST01/001/有测试结果显示/显示频度线图
90308200.00 晶体管测试仪 8610CU
90308200.00 四探针测试仪 FPP5000
90308200.00 测试编带机 NCT-3700(0603单晶)
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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