商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 台阶测试仪 XP-1
90308200.00 太阳电池板测试仪 DLSK-S0L3 用于测试电池板电能参数
90308200.00 半导体型号测试仪 HS-1
90308200.00 闪光器测试台 TL111,制造商:政木设计事务所
90308200.00 编带检测机/TTVISION T-112
90308200.00 全自动测试机 长裕/EPT-620/测试发光二极管分
90308200.00 EG硅片自动探针台(旧) 2001X
90308200.00 半导体老化板测试机 WJB-1700N
90308200.00 SEMILAB单点少子寿命测试仪 WT-1000B
90308200.00 测试台/测试集成电路用 横河,AL9740
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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