商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
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90308200.00 测试治具 型号:P5G41T-M LX Plux,无品牌
90308200.00 非接触式晶片分选机(NAPSON牌) 型号:NC-6800,用途:采用非接触式探头对硅片测量电阻率
90308200.00 全自动硅片分选机 用于检测硅片外观,尺寸,裂纹;HANMI;;;;3000M;;带电脑
90308200.00 太阳能测试分选设备 BACCINI
90308200.00 LED量测系统 ;INSTRUMENT SYSTEMS牌;;CAS140CT-153
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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