商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
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90308200.00 三维集成器件异质晶圆探针系统 用于为集成电路测试仪器提供电源,并对测试头进行定位|对
90308200.00 晶体管图示仪
90308200.00 光学检测仪 编带机用|检测半导体元器件的外观|带记录装置|无牌|无
90308200.00 测试机台 测试|测试IC功能的机台|不带记录装置|无牌|无型号|
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90308200.00 晶体测试仪 测量器件的各种特性曲线|测量器件的静态参数|不带记录装
90308200.00 功能测试机台 用于检测线路板|检测线路板合格与否|有带记录装置|wi
90308200.00 移动终端核心芯片测试系统 用于测试混合电路芯片|用于SOC单芯片的功能测试,对数
90308200.00 LED高压单晶电性测试机 起检测LED发光二极管电性作用|检测LED发光二极管的
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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