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商品编码	90308200.00
商品名称	测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
商品描述	测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
英文名称	Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices

HS编码	商品名称	商品规格
90308200.00	测试板	芯片测试\|测试芯片\|不带记录装置\|QUALCOMM A
90308200.00	测试机支架	用于支撑和固定测试头\|用于测试晶片等的测试机\|不带记录
90308200.00	交直流绝缘耐压测试仪	组件测试\|交流耐压，直流耐压，绝缘测试\|带记录装置\|艾
90308200.00	集成电路测试系统，旧	测试集成电路功能及电气参数\|测试半导体集成电路芯片的功
90308200.00	半导体测量设备	测量晶圆工艺及物质含量
90308200.00	检测集成电路用探针卡	测试集成电路\|对于集成电路制造起前工序测试作用\|不带记
90308200.00	集电测试仪	用于测试集成电路功能好坏\|集成电路测试\|有记录装
90308200.00	集成电路逻辑测试仪	用于测试集成电路逻辑功能的好坏\|集成电路测试\|带记录装
90308200.00	集成电路测试仪	用于集成电路(射频类)的自动测试\|对射频类集成电路可实
90308200.00	半导体分析仪	测试并分析半导体晶片上器件的特性,对象主要是民用半导体器

类目	第十八类光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备；钟表；乐器；上述物品的零件、附件（90~92章）
章节	第九十章光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备；上述物品的零件、附件
品目「9030」	示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置，但不包括品目9028的各钟仪表；α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置