商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
HS编码 90308200.00 申报实例信息,收录数 476 条
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 集成块测试机(旧) 测试集成电路|检查集成电路产品的电压|有记录装置|TE
90308200.00 检测半导体晶片或器件的仪器 包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置
90308200.00 码轮型编码器 测量用|量测距离,机器内部使用|不带记录装
90308200.00 轴心型编码器 测量用|量测距离,机器内部使用|不带记录装
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90308200.00 图示仪 用于检测半导体晶片或器件的仪器|检测半导体晶片的电流,
90308200.00 LED量测仪 可量测封装于LED支架上的LED芯片光电特性|机械传动
90308200.00 测试分选机 用于各种封装形式的半导体芯片出厂前的最终性能测试|根据
90308200.00 (旧)缺陷测试设备 用于芯片外观缺陷扫描|通过光学扫描与标准图片进行对比来
90308200.00 LED测试机 起检测作用|利用积分球检测成品LED|带记录装置|LI
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所属分类及章节、品目
类目 第十八类 光学、照相、电影、计量、检验、疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;钟表;乐器;上述物品的零件、附件 (90~92章)
章节 第 九十 章 光学、照相、电影、计量、检验、医疗或外科用仪器及设备、精密仪器及设备;上述物品的零件、附件
品目「9030」 示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置,但不包括品目9028的各钟仪表;α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他离子射线的测量或检验仪器及装置
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