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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | ESD电测系统 | 透过利用微电流通过LED，筛选LED组件是否有被静电损 |
| 90308200.00 | 晶体管测试仪 | 用于示波管显示半导体器件的各种特性曲线|测试测量设备| |
| 90308200.00 | 失效检测机 | 用于测试芯片|通过测试,判断芯片的合格与否|带记录装置 |
| 90308200.00 | CF卡测试仪(旧) | 测试CF卡|导通测试、漏电测试|无记录装置|TEST |
| 90308200.00 | LED量测仪(旧)修理费 | 可量测封装于LED支架上的LED芯片光电特性。包括亮度 |
| 90308200.00 | 测试机台 | 测试用|通过分析，实现检测电路板，元器件和线路通短的机 |
| 90308200.00 | 真空测试机 | |
| 90308200.00 | 晶圆测试台 | 用于晶圆级的芯片测试|芯片测试|不带记录装置|Accr |
| 90308200.00 | 93K 集成电路测试系统 | 用来测试集成电路芯片的功能,确保芯片按照设计指标正常工 |
| 90308200.00 | 量测单元 | 半导体硅片化学机械研磨及其他制程控制，提供线上整合式厚 |