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| 商品编码 | 90308200.00 |
| 商品名称 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 商品描述 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器 |
| 英文名称 | Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices |
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90308200.00 | 测试板卡 | 测试样品圆片|测试机台用的PCB|不带记录装置|COR |
| 90308200.00 | 半导体测量设备 | 测量晶圆工艺及物质含量 |
| 90308200.00 | 集成块测试机(旧) | 检查集成电路产品的电压,电流,是否漏电|检查集成电路产 |
| 90308200.00 | 晶圆点测机 | 用于半导体封装测试厂前段测试针测中所用|用于晶圆测试| |
| 90308200.00 | 半导体自动化测试分选机 | 用于分检IC在常温及高温环境温度下的电性能合格品|通过 |
| 90308200.00 | 芯片检测机(旧) | 对加工的半导体晶片进行检测|对半导体晶片进行检测|不带记录装 |
| 90308200.00 | 芯片模块测试机 | 可作为磁带生产输出质量的测量系统|为IC模块和RFID |
| 90308200.00 | 缺陷测试设备 | 用于芯片外观缺陷扫描|通过光学扫描与标准图片进行对比来 |
| 90308200.00 | 测试仪（旧） | 测试电压|用于测试TVS在10X1000US浪涌下的嵌 |
| 90308200.00 | P-8探针台 | 用于测试芯片的自动设备,具有自动打点,视觉识别芯片对位 |